观察导电粒子的个数以及分布，确认导电粒子是否符合要求。这个是每个做液晶模组厂家的必须要求。

使用金相显微镜系列配合起偏，检偏及DIC微分干涉，可以很好的观察屏的导电粒子，确认导电粒子个数是否符合要求。

首先，需要观察导电粒子必须要有配有DIC 及起偏检偏器的金相显微镜。对于观察导电粒子来说一般选用的镜头是要求为不超过20倍，超过后会由于景深的问题导致观察效果模糊，无法观察到的效果。
明美MJ33DIC的金相显微镜是观察导电粒子的选择！

以下是我司MJ33DIC配套我司自主研发的高清显微成像系统拍摄的导电粒子图片：

红色区域为导电粒子，在普通观察方式底下看不到